SJT 10737-1996 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
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ID： |
7E3FCD2E819E4B05A10000D8C300251D |
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文件大小(MB)： |
0.83 |
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页数： |
17 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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UDC 621.382.049<75 - 181.4：621.317.08,人民共和国国家标准,GB 3441—82,降为 SJ/T 10737-96,半导体集成电路ECL电路,测试方法的基本原理,General principles of measuring methods,of ECL circuits for semiconductor,integrated circuits,198272 31 发布1983 1001 实施,阊宗ス示准局批准,1,目录,总的要求(1),2静态参数测试 .（1）,2.1 输出髙电平电压レZ0〃 .. （1）,2.2 输出高电平阈值电压レZ0"7..（ 2 ）,2.3 输出低电平电压，〇厶 .. （3）,2.4 输出低电平阈值电压リ"/.7. （3 ）,2.5 输入高电平电流，ノ月….. （4 ）,2.6 输入低电平电流/〃 . （5 ）,2.7 电源电流/. （ 5 ）,3动态参数测试. （6 ）,3.1 建立时间ム双..（6）,3.2 保持时间ナ冃 （7）,3.3 输出由低电平到高电平传输延迟时间オPLH （ 9）,3.4 输出由高电平到低电平传输延迟时间オハ^ （10）,3.5 上升时间レ （11）,3.6 下降时间，/ .. （12）,3.7 最高时钟频率んax (13),附录A图形符号(15),中华人民共和国国家标准,半导体集成电路ECL电路,测试方法的基本原理,UDC 621.382,.049.75-181,4,：621.317.08,GB 34 4 1—82,General principles of measuring methods,of ECL circuits for semiconductor,integrated circuits,本标准规定「半导体集成电路ECL电路（以下简称器件）除态参数和动态参数测试方法的基本原,理0,木标准是参考国际电匸委员会（IEC） 147—2《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理》制,订的。 …,若无特殊说明,本标愈涉及的逻辑均为正逻辑,总的要求,1.1 若无特殊说明,测试期间,环境或参为点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定,1.2 测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范,的规定,1.3 测试期间,施ド被测器件的电源电压应在规定值的± 1 %以内。施于被测器件的其他电参量的,精度应符合器件详细规范的规定,1.4 被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件,1.5 除了被测器件的功能是由参数测试来证实タト,在静态参数测试和动态参数测试前应进行功能测,试,1.6 测试期间,被测器件应避免出现自激现象,2静态参数测试,2.1 输出高电平电压る月,2.1.1 定义,输入端在施加规定的电、K下,使输出端为逻辑高电平”时的电压,2.1.2 测试原理图,输出高电平电压匕曰的测试原理图如图1所示,国家标准局1 982-1 2-31发布1 983 1 0 01 实施,1,GB 3 4 41 —8 2,输出负载网络,被測器件,输入网络,EE,图1,2.1.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.环境温度Ta ;, 电源电压乙に,c.输入端施加的M平キ,d.输出负载,2,2,2,2,2,2,2,2,2,1.4,1.4.1,1.4.2,1.4.3,1.4.4,1.4.5,1.4.6,测试程序,在器件详细规范规定的环境温度ら下,将被测器件接入测试系统中,电源电压腺ぞ调到器件详细规范规定的电压值,输入端施加器件详细规范规定的电平,被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载;其余输出端开路,在被测输出端测得输出高电平电压レスH,按本标准第2. L4.3项至2.1.4.5项规定,分别测试每个输出端,2输出高电平阈值电压Q日ア,2.1定义,输入端在施加规定的阈值电平下,使输出端为逻辑高电平ZZ时的阈值电压,2.2.2 测试原理图,输出高电平阈值电压%/zア的测试原理图如图2所示,输入网络,被测滞件,输出负载网络,图2,2.2.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,环境温度Ta ；,2,GB 3441—82,b.电源电压嗓メ,c.输入端施加的阈值电平;,d.输出负载,2.2.4 测试程序,2.2.4.I 在器件详细规范规定的环境温度，ド,将被测器件接入测试系统中,2.2.4.2 电源电压レン浓调到器件详细规范规定的电压值,2.2.4.3 输入端施加器件详细规范规定的阈值电平,2.2.4.4 被测输出端施加器件详细规范规定的输出负载;其余输出端开路,2.2.4.5 在被测输出端测得输出髙电平阈值电压VQHT 〇,2.2.4.6 按本标准第2.2.4.3项至2.2.4. 5项规定,分别测试每个输出端,2.3 输出低电平电压厂ol,2.3.1 定义,输入端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑低电平ム时的电压,2.3.2 测试原理图,输出低电平电压，0L的测试原理图如图3所示,"1 VC('2 〒丁,输入网络,被测器件,输出负载网络,丄 ),图3,2.3.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.环境温度ア,b.电源电压げe曰,c.输入端施加的电平;,d,输出负载,2,2,2,2,2,2,2,3.4测试程序,3.4.1,3.4.2,3.4.3,3.4.4,3.4.5,3.4.6,在器件详细规范规定的环境温度ア”下,将被测器件接入测试系统中,电源电压片EE调到器件详细规范规定的电压值,……
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